ミッション

• 有機EL デバイス/ ディスプレイの標準化
• IEC TC110/WG18で策定する規格の審議及び国際規格の提案
• JEITA規格の策定及びメンテナンス

活動概要

• 規格審議のための委員会を年間６回程度開催する
• 参加企業数4社（21年12月現在）
• IEC TC110/WG18委員会に年間2~3回参加する

写真・図

2019年10月　IEC国際会議（上海）でのPT62341（OLED Gr）集合写真

追加資料など

◆発行済のIEC規格

• IEC 62341-1-1 Ed. 1.0 :2009 Generic specifications
• IEC 62341-1-2 Ed. 2.0 :2014 Terminology and letter symbols
• IEC 62341-2-1 Ed. 1.0 :2015 Essential ratings and characteristics of OLED display modules
• IEC 62341-5 Ed. 1.0 :2009 Environmental testing methods
• IEC 62341-5-2 Ed. 2.0 :2019 Mechanical endurance testing methods
• IEC 62341-5-3 Ed. 2.0 :2019 Measuring methods of image sticking and lifetime
• IEC 62341-6-1 Ed. 1.0 :2017 Measuring methods of optical and electro-optical parameters
• IEC 62341-6-2 Ed. 2.0 :2015 Measuring methods of visual quality and ambient performance
• IEC 62341-6-3 Ed. 2.0 :2017 Measuring methods of image quality
• IEC 62341-6-4 Ed. 1.0 :2017 Measuring methods of transparent properties

◆発行済のJEITA規格

• ED-2800 有機ELデバイスに関する用語及び文字記号（廃刊）
• ED-2810 有機ELディスプレイモジュール測定方法
• ED-2811 有機ELディスプレイモジュール測定方法（Ⅱ）-焼き付き、輝度寿命-
• ED-2811A 有機ELディスプレイモジュール測定方法（Ⅱ）-焼き付き、輝度寿命-
• ED-2811B 有機ELディスプレイモジュール測定方法（Ⅱ）-焼き付き、輝度寿命-

◆審議中のIEC規格

• IEC 62341-6-1 Ed.3 Measuring methods of optical and electro optical properties
• PWI 110-50 Measuring methods of short term image sticking
• PWI 110-59 Measuring methods of colour diffraction
• PWI 110-60 Measuring method of optical properties of under display feature