1. 開催日時

平成22年2月25日(木)　12：30-16：20（受付は12時から）

2. 開催目的

EMF（電子情報機器からの電磁界曝露）に関して、消費者の関心や規制に関わる環境が大きく変化しています。特に2008年6月にWHOのタスクグループが「ELFに関する環境影響クライテリア」を発行して以来、無線通信機のSAR（比吸収率）だけでなく低周波の電磁界の規制に関しても大きな変化が現れています。 JEITA　EMF専門委員会はこれらEMFに関する動向を調査するだけでなく、EMFの標準化に関しても積極的に関与してまいりました。特に電子情報機器のEMF評価法の作成に関して国内外の関連団体と情報を交換し、検討を重ねてきました。 また、本専門委員会ではEMFだけでなく、電子電気機器の利用に関する健康影響も調査しています。平成20年度からポータブル機器から漏洩する静磁界が医療機器に与える影響を調査しています。
本セミナーではこれらEMF専門委員会の活動報告を行うものです。

3. プログラム

	時間	講演内容	講演者
1	12:30～12:40	開催挨拶	EMC委員会 益田委員長
2	12:40～12:50	EMF専門委員会　委員長挨拶	横田委員長
3	12:50～13:20	EMFの研究や規制動向	多氣昌生教授 （首都大学東京）
4	13:20～14:10	EMF専門委員会の活動報告	横田委員長
5	14:10～14:30	ゲストスピーチ「仕事だけではなく、趣味（切 手収集）でも生きる」	三浦正悦氏
休憩
6	14:30～15:10	電子情報機器からのEMFとその評価方法	吉長委員
7	15:10～15:40	ポータブル機器から漏洩する静磁界評価実験	諏訪副委員長
8	15:40～16:20	IEC62209-2とモバイル／人着機器のSAR測 定に関して	横田委員長
9	16:20～16:45	席上討論およびQ&A	講演委員
10	16:45～16:50	閉会挨拶	横田委員長

4. 参加者

申込者数75名（メーカー52名、試験機関11名、関係者12名）

5. セミナー会場の様子